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적성 검사 방법
Aptitude test method
- 한덕현;
- 김선미;
- 이세영;
- 배수진
초록
본 발명의 일 실시예에 따른 적성 검사 방법은, 디스플레이에 제1 기준객체를 표시하고, 입력부를 통해 제1 비교객체를 입력받고, 상기 제1 기준객체와 상기 제1 비교객체의 형태를 비교 판단하는 형태비교단계; 상기 디스플레이에 복수의 객체를 포함하는 제2 기준객체 및 상기 복수의 객체와 각각 대응되는 대응객체와 추가객체가 포함된 선택개체를 표시하며, 상기 입력부를 통한 입력에 의해 상기 선택개체 내에서 적어도 일부가 선택된 제2 비교객체를 표시하고, 상기 제2 기준객체와 상기 제2 비교객체의 구도를 비교 판단하는 구도비교단계; 상기 디스플레이에 복수의 영역 각각에 영역색상이 추가된 제3 기준객체 및 상기 복수의 영역과 대응되는 대응영역인 색상입력객체를 표시하며, 상기 입력부를 통해 상기 대응영역에 색상이 추가된 제3 비교객체를 입력받고, 상기 제3 기준객체와 상기 제3 비교객체의 색감을 비교 판단하는 색감비교단계; 및 상기 제1 기준객체와 상기 제1 비교객체의 형태를 비교 판단한 결과, 상기 제2 기준객체와 상기 제2 비교객체의 구도를 비교 판단한 결과 및 상기 제3 기준객체와 상기 제3 비교객체의 색감을 비교 판단한 결과를 상기 디스플레이에 표시하는 단계;를 포함할 수 있다.
- 제목
- 적성 검사 방법
- 제목 (타언어)
- Aptitude test method
- 저자
- 한덕현; 김선미; 이세영; 배수진
- 발행일
- 2015-07-15
- 출원번호
- 10-2015-0018593
- 등록번호
- 10-1538605
- 출원일
- 2015-02-06
- 등록일
- 2015-07-15
- 지식재산권 유형
- 특허
- 양수인
- 중앙대학교 산학협력단