수직 편광된 양 측파대 프로브광을 이용한 브릴루앙 광 상관영역 분석시스템 및 분석방법

초록

본 발명은 브릴루앙 광 상관영역 분석시스템에 관한 것으로, 광원에서 조사된 광을 프로브광과 펌프광으로 분배하는 광원부; 상기 광원부로부터 전달받은 프로브광을 변조하고, 변조된 프로브광을 측정용 광섬유측으로 전달하는 프로브광부; 상기 광원부로부터 전달받은 펌프광을 변조하고, 변조된 펌프광을 상기 측정용 광섬유측으로 전달하는 펌프광부; 및 상기 측정용 광섬유와 광학적으로 연결되어 브릴루앙 산란에 의한 광신호를 검출하여 데이터를 기록하는 검출부를 포함한다. 이에 의해 종래의 편광 스위치(PSW)를 사용하지 않고 펌프광과 프로브광의 편광변화와 무관하게 정확한 측정이 가능하도록 하는 것은 물론, 측정 속도가 기존 대비 2배 향상되고 프로브광 입력 파워의 증가로 정확도 향상이 가능할 수 있다.